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HAST試驗箱越來越普遍的原因是什么?
近年來,隨著技術的進步,元器件的可靠性越來越高,一些傳統的測試方法已經無法適應。例如,常用的IC溫度/濕度/偏置電壓(THB)測試(85C/85%RH加偏置電壓)需要數千小時才能獲得近封裝質量水平的有用結果。此外,隨著越來越多的塑料微電路和COTS產品被應用于高可靠的軍事裝備,也需要提高測試和篩選技術以降風險。

美國國防部宣布采用民間標準SSB-1《塑封微電路和半導體在軍事、航空和其他嚴格控制的應用中的使用指南》,規定了半導體企業用于識別新的或改進產品的常用可靠性試驗,包括表面貼裝器件的預處理、偏置壽命試驗、溫度循環、高壓蒸煮、THB和高加速應力試驗(HAST)等。

在這些測試中,艾斯瑞儀器的HAST測試箱是專門為塑封固態器件設計的,因為已經證明高壓蒸煮和THB測試已經不能讓一些健壯的塑封微電路失效。在該實驗中,采用高溫(通常為130℃)、高相對濕度(約85%)和高大氣壓力(高達3 atm)來加速水分穿過芯片引線周圍的外部保護材料或密封封裝。當水分到達基底表面時,勢能會將裝置變成電解池,從而加速腐蝕失效機制。該測試中加速的失效機制包括金屬化腐蝕、材料界面處的分層、引線鍵合失效、絕緣電阻降等。這個和THB差不多,但是HAST加速更快。有些器件廠商通過對比確定某一批次的失效是由相同的失效模式引起的,然后對該批次使用HAST代替THB,再根據HAST測試結果用加速因子推導出等效的THB失效結果。

對于加速試驗,過去主要使用單一應力和恒定應力剖面。但是,在新的加速試驗中,應力剖面不需要恒定,也可以使用應力組合。常見的不穩定應力剖面和組合應力剖面包括步進應力剖面試驗、漸進應力剖面試驗、高加速壽命試驗(HALT)、高加速應力篩選(HASS)和HAST。HALT、HASS和HAST是相對較新的測試方法。HALT是一個開發測試,也是一個增強的逐步壓力測試。一般用于發現設計中的弱點和生產過程中的問題,目的是提高設計的強度裕度,而不是預測產品的定量壽命或可靠性。HASS是一種加速環境壓力篩選方法。它提供了產品遇到的惡劣的環境,花費的時間有限。HASS的目的是實現“技術的基本限”,即應力的微小增加會大大增加失效的應力水平。HALT和HASS的聯合使用旨在改進產品設計,大限度地減少生產變化和環境效應對性能和可靠性的影響。

HAST
用于評估IC器件、金屬材料等的可靠性。在潮濕環境中的非密封包裝中。在溫度/濕度/偏壓條件下,可用于加速水分的滲透,通過外部防護材料(塑料密封材料或密封件)或在外部防護材料與金屬導電材料的界面處。

hast試驗箱的詳細規范:
設定溫度:+100℃ ~+132℃(飽和蒸汽溫度)
濕度范圍:蒸汽濕度
工作壓力:1.5 kg ~ 3.2 kg/cm2(內筒設計壓力為4 kg/cm2) (Jué du √壓力)
HAST試驗箱越來越普遍的原因是什么?

時間范圍:000小時~ 999小時
加壓時間:0.00 kg ~ 1.04 kg/cm2,約45分鐘
溫度波動均勻性:0.5℃
溫度顯示精度:0.1℃
壓力波動均勻性:0.2Kg

Hast試驗室控制系統
1.飽和蒸汽的溫度由微型計算機(PT-100鉑溫度傳感器)控制。
2.時間控制器采用LED顯示。
3.用指針顯示壓力表。
4.微電腦P.I.D自動計算和控制飽和蒸汽溫度。
5.手動進水閥(自動加水功能,不停機連續測試)。

Hast試驗箱材料:
1.試驗箱尺寸:∮ 300mmx500mm,圓形試驗箱。
2.整機外形尺寸:實用(寬*深*高)立式
3.內桶材料:不銹鋼板材(SUS#3163mm)
4.外桶材料:不銹鋼板(SUS#3161mm)
5.保溫材料:巖棉和硬質聚氨酯泡沫保溫。
6.蒸汽發生器室加熱管:管式無縫鋼管電加熱器,翅片散熱(表面鍍鉑防腐蝕)。

Hast試驗箱ān qun保護:
1.進口耐高溫密封電磁閥,采用雙回路結構,確保壓力不泄漏。
2.整機配有過壓保護、超溫保護、一鍵泄壓、手動泄壓等多重φNQán保護裝置,大程度保證用戶使用和φNQán。
3.背壓門鎖裝置,當實驗室內有壓力時,試驗箱門不能打開。

Hast試驗箱適用于國防、汽車零部件、電子零件、塑料、磁體工業、制藥工業等相關產品的加速壽命試驗。用于產品設計階段,快速識別產品的缺陷和薄弱環節。艾利測試儀器是專業模擬測試設備的明星企業,生產歷史悠久,技術精良。國內很多測試設備廠都在用,成立30多年了。深受好評,多次被評為“省優”產品。

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